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射线探伤是基于X射线透过一定厚度的制品,其不同的内部组织结构对X射线有不同的吸收,从而引起射线透过制品后的强度差异,使缺陷能在射线底片上显示出来X射线衰减系数m随其波长增加和透照材料密度的增加而增大 由于衰减不同而形成透射X射线强度的